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Micron · 반도체 변화 기록

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어드반테스트많이 측정하는 것이 아니라 산업적으로 중요한 차이를 구분한다크로마 ATE아직 산업이 안정적으로 검증하지 못하는 문제를 먼저 찾는다글로벌파운드리스기존 capability를 다른 사업능력으로 다시 만든다화훙반도체node 이름보다 고객 application 안에서의 공정 깊이인텔특정 요구를 다른 제품과 고객도 쓸 수 있는 구조로키옥시아발명보다 양산가능한 manufacturing system으로KLA기존 inspection/metrology가 보지 못하던 variation을 보이게 만든다마이크론좋은 기술과 투자할 가치가 있는 기술을 구분한다라피더스배운 기술을 Chitose의 실제 제조지식으로삼성전자외부 의존을 조직의 소유능력으로SK하이닉스확대하기 전에 먼저 고른다SMIC외부 access를 자기 조직의 반복가능한 능력으로테라다인모호한 기술상태를 measurable specification과 판단기준으로 바꾼다TSMC외부 설계를 제조 가능한 조건으로UMC기술을 여러 고객이 반복 사용할 수 있는 foundry offering으로 바꾼다YMTC격차를 더 열심히 따라가기보다 문제구조 자체를 다시 짠다

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